平成30年度春期 エンベデッドシステムスペシャリスト試験 午前II 問4
【問題4】
JTAG (IEEE 1149.1) の説明として，適切なものはどれか。
組合せ回路のテスト生成方式
テストプローブを用いた導通テストの方法
バウンダリスキャンテストの標準方式
ビルトインセルフテストの方式
出典：平成30年度 春期 エンベデッドシステムスペシャリスト試験 午前II 問4
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